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Workshop

Séminaire "Indentation et Rayage Instrumentés, Caractérisation Mécanique Multi-échelles, Etat de l'Art et Nouveautés"

About this event

Web site
/www.bruker.com/ev…
When
2526 Apr 2018
Where
France

Bruker et le Département Mécanique et Verres de l’Institut de Physique de Rennes (UMR CNRS-UR1 6251), par l’intermédiaire du Dr. Jean-Pierre Guin, vous invitons au Séminaire "Indentation et rayage instrumentés, caractérisation mécanique multi-échelles, état de l’art et nouveautés".

Le séminaire fera le point sur les différentes techniques disponibles de caractérisation mécanique par contact, allant de l'échelle micrométrique à l'ultra nénométrique.

• Le micro et nano rayage (travaux pratiques sur le Tribolab de Bruker) et les notions de mécaniques associées : Usure, frottement…

• l’indentation instrumentée, le nano rayage (travaux pratiques sur l’Hysitron TI950 équipé du contrôleur Perfomech II) : cartographies ultra rapides des propriétés mécaniques : dureté, élasticité…

• Les différentes approches pour les propriétés mécaniques en microscopie de force atomique (AFM) (travaux pratiques sur Dimension Icon de Bruker) : Cartographie rapide des propriétés mécaniques : module de perte, module de stockage, déformation, adhésion

Cliquez ici pour s’inscrire.

Agenda
Le séminaire se déroulera sur 2 jours. Vous pouvez participer à l’ensemble des deux jours ou à la journée de votre choix.

Mercredi 25 avril: le rayage et la micro/ nano indentation instrumentée
• Matinée avec des Présentations scientifiques et techniques
• Après-midi avec des TP sur le Tribolab configuré en instrument de rayage, le nano-indenteur modèle Hysitron TI 950 et une découverte de l’AFM

Jeudi 26 avril: La nano indentation en mode dynamique et en cartographie/ mapping ultra rapide ainsi que l’AFM et l’imagerie de propriétés mécaniques en Force Volume, Peak Force QNM et Contact Résonance
• Matinée avec des Présentations scientifiques et techniques
• Après-midi avec des TP sur le nano indenteur modèle Hysitron TI 950 et la découverte des modes XPM (Xtrem property mapping) et l’AFM modèle Dimension ICON